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新舊環(huán)境試驗(yàn)箱對比

 更新時(shí)間:2012-12-20 點(diǎn)擊量:3012

一、環(huán)境試驗(yàn)機(jī)介紹:
環(huán)境試驗(yàn)箱主要包括低溫試驗(yàn)設(shè)備、高溫試驗(yàn)設(shè)備、溫度變化試驗(yàn)設(shè)備、恒定濕熱試驗(yàn)設(shè)備、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備、鹽霧試驗(yàn)設(shè)備等。本文只淺談關(guān)于環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的溫度校準(zhǔn),因此只涉及到低溫試驗(yàn)設(shè)備、高溫試驗(yàn)設(shè)備及溫度變化試驗(yàn)設(shè)備。

二、新舊環(huán)境試驗(yàn)箱對比
2.1測量依據(jù)
2.1.1 JJFllOl一2003{環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范》
2.1.2 GB5170{電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》
2.2新增加的內(nèi)容
JJFI101—2003增加了引用文獻(xiàn)、計(jì)量特性,規(guī)范了計(jì)量術(shù)語。
2.3校準(zhǔn)條件對比
2.3.1環(huán)境條件
JJF1101—2003中濕度:(30~ 85) RH;GB5170中相對濕度45 一75 。
2.3.2負(fù)載條件
JJF1101—2003規(guī)定一般在空載條件下校準(zhǔn),根據(jù)用戶要求可以在負(fù)載條件下進(jìn)行校準(zhǔn),但應(yīng)說明負(fù)載的情況。
2.4測量用標(biāo)準(zhǔn)器
JJF1101—2003規(guī)定溫度測量由溫度傳感器(通常用四線制鉑熱電阻)和顯示儀表組成,時(shí)間常數(shù)應(yīng)小于15s。在時(shí)間常數(shù)要求上要嚴(yán)于GB517O的不大于20s。
2.5溫度校準(zhǔn)項(xiàng)目
2.5.1 JJF11Ol一2003中溫度校準(zhǔn)項(xiàng)目有:溫度偏差;溫度均勻度;溫度波動(dòng)度。
2.5.2 GB5170中關(guān)于溫度校準(zhǔn)項(xiàng)目有:溫度誤差;溫度變化速率(適用于有溫度變化速率要求的試驗(yàn)設(shè)備)。
2.6溫度校準(zhǔn)方法校準(zhǔn)溫度點(diǎn)的選擇
2.6.1 JJF1101—2003中校準(zhǔn)溫度點(diǎn)一般應(yīng)選擇設(shè)備使用范圍的下限、上限及中間點(diǎn),也可根據(jù)用戶要求選擇實(shí)際常用的溫度點(diǎn)。
2.6.2 GB5170中在設(shè)備溫度可調(diào)范圍內(nèi),檢定溫度一般選取極限標(biāo)稱溫度和按GB2423.1規(guī)定的具有代表性的標(biāo)稱溫度點(diǎn).
2.7測試點(diǎn)的位置
測試點(diǎn)的位置應(yīng)布放在設(shè)備工作室的三個(gè)校準(zhǔn)面上,簡稱上、中、下三層,中層為通過工作室?guī)缀沃行牡钠叫杏诘酌娴男?zhǔn)工作面。
2.7.1 JJF1i01—2003中測試點(diǎn)與工作室內(nèi)壁的距離不小于各邊長的1/l0,遇風(fēng)道時(shí),此距離可加大,但不能大于500mm。如果設(shè)備帶有樣品架或樣品車時(shí),下層測試點(diǎn)可布放在樣品架或樣品車上方10ram 處。
2.7.2 GB5I70中設(shè)備容積小于或等于Im3時(shí),測試點(diǎn)位置與工作室內(nèi)壁的距離為工作室邊長的1/10。設(shè)備帶有樣品架時(shí),下層測試點(diǎn)可存放在底層樣品架上10mm處。設(shè)備容積大于lm3小于或等于10m3時(shí),測試點(diǎn)位置與工作室內(nèi)壁的距離為工作室各邊長的1/lO(遇有風(fēng)道時(shí),是指與送風(fēng)口和回風(fēng)口的距離)。設(shè)備帶有樣品或樣品車時(shí),下層測試點(diǎn)可布放在底層樣品架或樣品車上方lOmm處;設(shè)備容積大于10m3時(shí),測試點(diǎn)位置與工作室內(nèi)壁的距離為工作室各邊長的1/lO(遇有風(fēng)道時(shí),是指與送風(fēng)口和回風(fēng)口的距離),但zui大距離不能大于500mm。設(shè)備帶有樣品或樣品車時(shí),下層測試點(diǎn)可布放在底層樣品架或樣品車上方10ram處。

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